产品描述
JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。 JIMA RT RC-02B分辨率测试卡 测试卡封装在一个防护盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm 芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm 图案布局:L型 线/空间尺寸: 16种规格图案, 0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm, 2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm JIMA RT RC-04 X射线分辨率测试卡 JIMA RT RC-05分辨率测试卡
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