JIMA RT RC-02B分辨率测试卡,X射线分辨率测试卡
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产品描述

JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA RT RC-02B分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm
图案布局:L型
线/空间尺寸: 16种规格图案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
JIMA RT RC-04 X射线分辨率测试卡
JIMA RT RC-05分辨率测试卡

http://www.szwejkkj.com
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